RD33774ADSTEVB utvärderingskort
NXP Semiconductors RD33774ADSTEVB utvärderingskort är en distribuerad cellövervakningsenhet (CMU) referenskonstruktion med en elektrisk transportprotokollänk (ETPL). Utvärderingskortet innehåller en integrerad krets för MC33774A seriekopplad battericellsstyrning (IC). Utvärderingskortet RD33774ADSTEVB införlivar System-in-Package-enheter som använder högvolymsteknik. Utvärderingskortet stöder ett sortiment av analoga lösningar, blandade signaler och strömlösningar. Utvärderingskortet RD33774ADSTEVB utför analog-till-digital-omvandling på differentiella cellspänningar och -strömmar.
INGA RESULTAT HITTADES..
Försök att ändra din sökterm nedan eller besök vårt hjälpcenter.
Försök att ändra din sökterm nedan eller besök vårt hjälpcenter.
Sökförslag
- Kontrollera art. nr. eller nyckelord
- Använd kortare eller annat nyckelord
- Sök på 1 art.nr. i taget
- Använd 1 filter i taget