SN74ABT8245 Serie Specialfunktionslogik

Resultat: 3
Välj Bild Artikelnummer
 Tillverk:
Beskrivning Datablad Tillgänglighet Prissättning: (SEK) Filtrera resultaten i tabellen efter enhetspris baserat på din kvantitet.
Antal RoHS ECAD-modell Produkt
Serie
Minsta drifttemperatur
Maximal drifttemperatur
Paket/låda
Förpackning
Texas Instruments Specialfunktionslogik Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DWR A 595-SN74ABT8245DWR
Datablad
13På lager
Min.: 1
Multipla: 1

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Specialfunktionslogik Scan Test Devices AL T 595-SN74ABT8245DW ALT 595-SN74ABT8245DW
Datablad
Produktkommenterarer
75På lager
Min.: 1
Multipla: 1

Boundry Scan JTAG Logic SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Specialfunktionslogik Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DW A 595-SN74ABT8245DW
Datablad
Ledtid för icke lagerfört 6 Veckor
Min.: 2 000
Multipla: 2 000
Papprulle: 2 000

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Reel