TPD3S714-Q1EVM

Texas Instruments
595-TPD3S714-Q1EVM
TPD3S714-Q1EVM

Tillverk:

Beskrivning:
Strömhantering, IC-utvecklingsverktyg TPD3S714-Q1EVM

På lager: 10

Lager:
10 Kan skickas omedelbart
Fabrikens ledtid:
12 Veckor Uppskattad tillverkningstid i fabriken för kvantiteter som är större än vad som visas.
Minst: 1   Flera: 1   Maximalt: 5
Enhetspris:
-,-- kr
Ext. pris:
-,-- kr
Est. Pris:
Denna produkt levereras UTAN KOSTNAD

Prissättning (SEK)

Antal Enhetspris
Ext. pris
913,97 kr 913,97 kr

Produktattribut Attributvärde Välj attribut
Texas Instruments
Produktkategori: Strömhantering, IC-utvecklingsverktyg
RoHS-direktivet:  
Evaluation Modules
Power Management Specialized
3.3 V, 5 V
TPD3S714-Q1
TPD3S714
Märke: Texas Instruments
Monteringsland: Not Available
Distributionsland: Not Available
Ursprungsland: US
Beskrivning/funktion: Evaluation module for TPD3S714-Q1 USB 2.0 interface protection with short to battery and short to ground
Gränssnittstyp: USB
Maximal drifttemperatur: + 125 C
Minsta drifttemperatur: - 40 C
Produkttyp: Power Management IC Development Tools
Kvalificering: AEC-Q100
Fabriksförpackningskvantitet: 1
Underkategori: Development Tools
Hittade produkter:
Markera minst en kryssruta för att visa liknande produkter
Markera minst en kryssruta ovan för att visa liknande produkter i denna kategori.
Attribut som valts: 0

TARIC:
8473302000
CNHTS:
8543709990
USHTS:
8473301180
MXHTS:
8473300499
ECCN:
EAR99

TPD3S714-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S714-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed for the evaluation of the TPD3S714-Q1, a USB 2.0 interface protection IC. The evaluation module contains four TPD3S714-Q1's (U1, U2, U3, and U4). U1 is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 & USB2) for capturing system-level tests. U2 is configured with 4 SMA (S1 - S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. U3 is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. U4 is pinned out for device-level tests.