TPD3S716-Q1EVM

Texas Instruments
595-TPD3S716-Q1EVM
TPD3S716-Q1EVM

Tillverk:

Beskrivning:
Strömhantering, IC-utvecklingsverktyg TPD3S716-Q1EVM

På lager: 2

Lager:
2 Kan skickas omedelbart
Fabrikens ledtid:
12 Veckor Uppskattad tillverkningstid i fabriken för kvantiteter som är större än vad som visas.
Minst: 1   Flera: 1   Maximalt: 5
Enhetspris:
-,-- kr
Ext. pris:
-,-- kr
Est. Pris:
Denna produkt levereras UTAN KOSTNAD

Prissättning (SEK)

Antal Enhetspris
Ext. pris
888,81 kr 888,81 kr

Produktattribut Attributvärde Välj attribut
Texas Instruments
Produktkategori: Strömhantering, IC-utvecklingsverktyg
RoHS-direktivet: N
Evaluation Modules
Power Switch
3.3 V, 5 V
TPD3S716-Q1
TPD3S716
Märke: Texas Instruments
Gränssnittstyp: USB
Maximal drifttemperatur: + 125 C
Minsta drifttemperatur: - 40 C
Produkttyp: Power Management IC Development Tools
Kvalificering: AEC-Q100
Fabriksförpackningskvantitet: 1
Underkategori: Development Tools
Hittade produkter:
Markera minst en kryssruta för att visa liknande produkter
Markera minst en kryssruta ovan för att visa liknande produkter i denna kategori.
Attribut som valts: 0

Efterlevnadskoder
TARIC:
8473302000
CNHTS:
8473309000
USHTS:
8473301180
MXHTS:
8473300499
ECCN:
EAR99
Ursprungsklassificeringar
Ursprungsland:
USA
Monteringsland:
Ej tillgänglig
Distributionsland:
Ej tillgänglig
Landet kan komma att ändras vid leveranstillfället.

TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed to help evaluate the TPD3S716-Q1. The TPD3S716-Q1 is a USB 2.0 interface protection with adjustable current limit and short-to-battery protection. Each evaluation module contains four TPD3S716-Q1 devices. One TPD3S716-Q1 (U1) is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 and USB2) for capturing system-level tests. One TPD3S716-Q1 (U2) is configured with four SMA (S1–S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. One TPD3S716-Q1 (U3) is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. One Texas Instruments TPD3S716-Q1 (U4) is pinned out for device-level tests.